可靠性試驗(yàn)的定義

什么是可靠性試驗(yàn)？

電子元器件的可靠性指標(biāo)通常采用失效率（X )來表示。而對電子設(shè)備而言，除特種設(shè) 備外，一般是可以修復(fù)的，其可靠性指標(biāo)往往用平均無故障工作時(shí)間（MTBF )來表示。電 子產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)不同千產(chǎn)品的電氣性能指標(biāo)，它有時(shí)間性、綜合性和統(tǒng)計(jì)性等特點(diǎn)，它 不能象電氣性能指標(biāo)那樣直接用儀器儀表測量。一般是通過下面兩種途徑獲得：
一種是產(chǎn)品在現(xiàn)場使用的累積時(shí)間和累積失效數(shù)，經(jīng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法處理獲得。這種數(shù)據(jù) 叫產(chǎn)品現(xiàn)場使用可靠性的統(tǒng)計(jì)平均值。或者是有計(jì).劃有目的將產(chǎn)品放在現(xiàn)場使用的典型條件 下工作一個(gè)規(guī)定的時(shí)間，根據(jù)累積工作時(shí)間和累積失效數(shù)經(jīng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法處理獲得。這種數(shù)據(jù)叫產(chǎn)品現(xiàn)場可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證值。獲得產(chǎn)品現(xiàn)場可靠性試驗(yàn)驗(yàn)證值的方法叫現(xiàn)場可靠性試 驗(yàn).另一種是通過在實(shí)驗(yàn)室里進(jìn)行可靠性試驗(yàn)的方法獲得產(chǎn)品的可靠性指標(biāo)。這種方法是在 實(shí)驗(yàn)室里用一種規(guī)定的及受控的工作條件及環(huán)境條件，模擬現(xiàn)場的使用條件，模擬產(chǎn)品在現(xiàn) 場所遇到的環(huán)境應(yīng)力進(jìn)行試驗(yàn)，將累積試驗(yàn)時(shí)間和累積失效數(shù)經(jīng)數(shù)理統(tǒng)計(jì)方法處理獲得。這 種數(shù)據(jù)叫產(chǎn)品可靠性試驗(yàn)的驗(yàn)證值。
因此，對“什么是可靠性試驗(yàn)”的理解，可以簡單地說，為評價(jià)分析產(chǎn)品的可靠性而進(jìn) 行的試驗(yàn)，就叫可靠性試驗(yàn)。也可以定義為：在試驗(yàn)室里，用模擬現(xiàn)場工作條件和環(huán)境條件 進(jìn)行試驗(yàn)，借以確定設(shè)備可靠性的方法，就叫做可靠性試驗(yàn)。除特別注明外，通常所稱的可 靠性試驗(yàn)，就是指這種室內(nèi)的模擬可靠性試驗(yàn)。

這里應(yīng)該特別指出，電子元器件的可靠性試驗(yàn)方法和要求與電子設(shè)備的可靠性試驗(yàn)方法 和要求是不完全一樣的。對電子元器件的可靠性試驗(yàn)來說，既包含有模擬現(xiàn)場使用條件的一 般失效率試驗(yàn)，又包含有大應(yīng)力強(qiáng)度的加速壽命試驗(yàn)。而對電子設(shè)備而言，則是指模擬現(xiàn)場 工作條件和環(huán)境條件而進(jìn)行的可靠性試驗(yàn)，這在第二篇和第三篇中將分別進(jìn)行詳細(xì)的闡述。
廣義而言，每種試驗(yàn)（包括環(huán)境試驗(yàn)、例行試驗(yàn)、篩選試驗(yàn)、可靠性試驗(yàn)等）的最終目 的都是為了提髙產(chǎn)品質(zhì)量，每當(dāng)觀察到失效時(shí)，都要認(rèn)真記錄和進(jìn)行深入細(xì)致的失效機(jī)理分 析，進(jìn)行質(zhì)量反饋。所以，任何與故障或故障效應(yīng)有關(guān)的試驗(yàn)都可認(rèn)為是可靠性試驗(yàn)