
HAST高壓老化試驗(yàn)箱測(cè)試芯片技術(shù)規(guī)范
HAST高壓老化試驗(yàn)箱測(cè)試芯片技術(shù)規(guī)范一、簡(jiǎn)介HAST高壓加速老化試驗(yàn)是一種評(píng)估非密封封裝器件在高溫、高壓、潮濕環(huán)境下可靠性的試驗(yàn)方法。它采用嚴(yán)格的溫度、濕度、大氣壓、電壓條件,這些條件會(huì)加速水分滲透到材料內(nèi)部與金屬導(dǎo)體之間的電化學(xué)反應(yīng),從而評(píng)估器件的可靠性。本規(guī)范適用于量產(chǎn)芯片驗(yàn)證測(cè)試階段的HAST測(cè)試需求,僅針對(duì)非...藥物長(zhǎng)時(shí)間儲(chǔ)存測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
為確保藥品的質(zhì)量,需執(zhí)行安定性試驗(yàn)以推定其有效時(shí)間以及儲(chǔ)存狀態(tài),安定性試驗(yàn)主要研究藥品質(zhì)量受到環(huán)境因素如溫度、濕度及光線(xiàn)等之影響是否會(huì)隨時(shí)間變化以及關(guān)連性,研究出藥品降解曲線(xiàn),據(jù)以推定有效期間,確保藥品使用時(shí)的有效性及安全性。使用恒溫恒濕試驗(yàn)箱測(cè)試,可以模擬高溫,高濕,低溫,低濕,精準(zhǔn)模擬長(zhǎng)時(shí)間存儲(chǔ)受到環(huán)境...聯(lián)系人:賈小姐
廣東省東莞市寮步鎮(zhèn)嶺安街2號(hào)